Subsystem VIEW/3
Reportvorlagen und erweiterte Auswertungen

Zur Ergänzung und Erweiterung des SAP-Standards bietet VIEW/3 fertige Standard-Reportvorlagen und erweiterte Auswertungen für das Qualitätsmanagement.
Der Einsatz von Crystal Reports als Entwurfswerkzeug ermöglicht dem Anwender die einfache Gestaltung benutzerdefinierter Layouts und Datenbankabfragen mit beliebiger Selektion von Daten aus SAP Prüflosen als auch aus zusätzlichen Datenbanktabellen.
Die Prüflose werden über einen RFC-Baustein in eine Datenbank geladen und stehen dort für weitere Auswertungen zur Verfügung. So kann beispielsweise eine Auswertedatenbank lokal auf einem Notebook erstellt und zu Demonstrationszwecken mit zum Kunden oder Lieferanten genommen werden.
Erweiterte Auswertungen
- Prüflos-/ prüfpunkt-/ probenübergreifende Darstellungen
- Xquer/s, Xquer/R, Xquerquer, X/Xquerquer Karten
- Paretoauswertungen Merkmalsfehler
- Qualitative Auswertung
- Merkmalsvergleich relativ / absolut
- Häufigkeitsverteilung
- Wahrscheinlichkeitsgerade
- Urwertkarte
- Mehrere Merkmale auf einen Blick
- „Chart-Scroll“ Feature
- Min/Max- oder toleranzbezogene Anzeige
- Kennzahlen (cp, cpk, cm, cmk)
QM-Muster-Reportvorlagen
- Auftragsprotokolle detailliert mit Grafik
- Prüfzertifikat, Werkszeugnisse
- Prüfanweisung
- Erstmusterprüfberichte (VDA, QS9000)
- SPC Karten
- Fehlersammelkarte (Merkmalsfehler)
- ppm-Auswertungen über Prüflose oder Merkmale
- Formnester bezogene Auswertungen
- Einbindung individueller Grafiktypen in Reports
- Benutzerdefinierte Layouts & Datenbankabfragen






